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  • 滲透探傷試塊

    滲透探傷試塊

    產品介紹:
    CY/P-B3不銹鋼鍍鉻三點式試塊:符合 JB/T 6064-2006及JB/T4730-2005標準(B3)
    用于各靈敏度級別著色,熒光滲透探傷的質量控制。
    CY/P-B5 不銹鋼鍍鉻五點式試塊:符合JB/T6064-2006標準(B5),主要用于高靈敏度
    及超高靈敏度級別熒光探傷線的質量控制。
    CY/P-B6不銹鋼鍍鉻六點式試塊:在同一塊試塊上制作2組基本對稱的大、中、小輻射裂
    紋,裂紋分布符合JB/T 6064-2006及JB/T4730-2005,可代替鋁合金對比試塊用。

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  • PT滲透探傷專用試塊系列

    PT滲透探傷專用試塊系列

    PT滲透探傷專用試塊系列

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  • 磁粉探傷I型試塊

    磁粉探傷I型試塊

    產品介紹:
    符合GB/T 15822.2-2005/ISO 9934-2:2002
    便捷直觀評價磁粉檢測介質性能
    調試、使用和維護磁粉探傷設備有用手段

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  • MT磁粉探傷專用試塊、試片

    MT磁粉探傷專用試塊、試片

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